萬睿視VAREX射線平板探測器的成像系統說明

　　萬睿視VAREX射線平板探測器的產品特點如下：

　　1.元器件和傳感器全屏蔽保護，因此不會因輻照而老化；

　　2.穩定的圖像質量和超長的使用壽命；

　　3.高動態范圍；

　　4.無像素缺陷，因為每個像素點都是由數個獨立的像素點組成的；

　　5.幾乎可忽略的圖像延遲（小于0.1%）；

　　6.圖像讀取在被測物體運動時進行；

　　7.模塊化設計，是理想的無損檢測探測器。

　　萬睿視VAREX射線平板探測器的成像檢測系統由X射線源、被檢測工件、平板探測器成像系統和計算機系統等組成。其中的X射線源是用于產生一定能量的X射線穿透工件，X射線在工件內部被吸收而產生強度上的差異，從而傳遞工件內部的缺陷、形狀等信息到達平板探測器。

　　X射線源焦點尺寸越小，則得到的圖像清晰度就越高。為得到質量較高的圖像，在X射線檢測中應盡量選用焦點尺寸較小的X射線源，但在實際的工業探傷中，由于工件的厚度較大，就要求X射線有一定的功率以穿透被測工件，因而目前工業所用的X射線源焦點直徑通常在1.0mm以上。